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SD-300i用于測定藍寶石的表面缺陷，適用于科研、工業(yè)生產(chǎn)等需求。該儀器還是一臺半自動高精度定向儀，實現(xiàn)了缺陷和定向雙功能。

藍寶石晶片表面缺陷測試儀-產(chǎn)品特點：
■ 缺陷和定向雙功能
■ 配有射線窗口電磁光閘和可靠的射線防護罩，確保安全使用
■ 表格和曲線的形式顯示，一目了然
■ 速度快，重復性好
■ 效率高，數(shù)據(jù)實時處理

藍寶石晶片表面缺陷測試儀-技術參數(shù)：
■ 測試時間：1-2分鐘
■ 重復性精度：≤±5″。
■ 測角精度為±15″
■ 最小讀數(shù)1″

藍寶石晶片表面缺陷測試儀-典型客戶:
臺灣及國內(nèi)藍寶石及半導體客戶廣泛應用。